Merkezimiz bünyesinde bulunan FE-SEM (Taramalı Elektron Mikroskobu) cihazındaki tamir işlemleri tamamlanmış olup tekrar analiz hizmetine sunulmuştur.

FE-SEM ile seramik, metal, polimer, ince film, jeolojik malzemeler ve biyolojik numunelerin topografi, morfoloji, şekil, boyut, bileşim ve kristallografik yapıları hakkında bilgi elde edilir. Cihazda bulunan ikincil elektron görüntü (SE), in-lensSE, geri yansıyan elektron görüntü (BSE) ve katodolüminesans (CL) dedektörleri ile yüksek çözünürlükte görüntü elde edilmektedir. Yalıtkan numunelerin analizi için numune hazırlamada kullanılmak üzere yüksek vakum sputter platin kaplama cihazı ve karbon kaplama ataçmanı mevcuttur. Ayrıca biyolojik örnekler için kritik nokta kurutucusu mevcuttur. Bu sayede, dokularda fizyolojik veya patolojik olarak, ya da deneysel yöntemlerle ortaya çıkan morfolojik değişikliklerin analizi yapılarak yorumlanabilmektedir.